主要特点
分析范围： 100ppm～99.99%
测量时间： 自适应
元素分析： 从Na～U的所有元素
测量精度： ±10PPM～0.1%
X射线源： Mo靶的X射线光管 风冷（无辐射）
摄像头：高清晰摄像定位系统，工作可靠，效率高
探测器：Si-PIN探测器(美国进口)
分辨率：145Kev ± 5
高压器：0～50Kv
软件：菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算；软件除能显示金属百分比纯度外，亦可显示黄金K值；软件可自动重复检测，自动测算多次检测的均值.
镀层测量：镀层厚度范围<30um
技术规格
单样品腔
放大电路
高低压电源
X光管
计数器
高清晰摄像头
计算机 （可选）
无打印机，需要另购
稳压电源 （可选）
物理和电气参数
电压：100～127V或220～240V，50/60Hz
最大功率：128W
重量：27公斤
尺寸：670*400*300mm
操作系统： Windows2000/Me/XP
温度范围
温度：-11～46℃
订货型号
